Partner: Krzysztof Zawalski


Patents
Filing No./Date
Filing Publication
Autor(s)
Title
Protection Area, Applicant Name
Patent Number
Date of Grant
pdf
214435
1979-03-28
-
1980-10-06
Żukowski S., Zawalski K.
Ekstensometr mechaniczny do pomiaru odkształceń próbek poddawanych rozciąganiu lub ściskaniu
PL, Instytut Podstawowych Problemów Techniki PAN
121814
-
1984-01-31