- Strona główna
- Działalność naukowa
- Badania naukowe
- Doktorat w IPPT PAN
- Współpraca
- Informacje
- Biblioteka
- Oficyna wydawnicza
- Przetargi
- Oferty pracy
- Kadry
- Misja
- Struktura
- Dyrekcja
- Rada Naukowa
- Jednostki badawcze
- Międzynarodowy Zespół Doradczy
- Krajowy Punkt Kontaktowy
- Centrum Usług Laboratoryjnych
- Związki zawodowe
- Schemat organizacyjny
- Historia
- Konsorcja
- Media o nas
- Kontakt
Partner: Krzysztof Zawalski |
Patenty
Numer/data zgłoszenia patentowego Ogłoszenie o zgłoszeniu patentowym | Twórca / twórcy Tytuł Kraj i Nazwa uprawnionego z patentu | Numer patentu Ogłoszenie o udzieleniu patentu | |
---|---|---|---|
214435 1979-03-28 - 1980-10-06 | Żukowski S.♦, Zawalski K.♦Ekstensometr mechaniczny do pomiaru odkształceń próbek poddawanych rozciąganiu lub ściskaniuPL, Instytut Podstawowych Problemów Techniki PAN | 121814 - 1984-01-31 |