| Tytuł projektu: Wytwarzanie sond pomiarowych o zróżnicowanym kształcie ostrza oraz niespotykanych właściwościach mechanicznych i trybologicznych do zastosowania w mikroskopach sił atomowych. |
Umowa:
TANGO-IV-B/0002/2019-00
Czas realizacji:
2020-11-02 / 2024-10-31
Konsorcjum:
Koordynator
Sponsor:
NCBiR
Typ:
TANGO
Konkurs:
4
Lista wykonawców:
| 1 | mgr inż. | Wojciech Dera |
| 2 | dr hab. inż. | Dariusz Jarząbek♦ |
| 3 | mgr inż. | Piotr Jenczyk |
| 4 | mgr inż. | Michał Milczarek |
| ♦ kierownik |
Streszczenie:
Projekt ma na celu wprowadzenie na rynek innowacyjnych sond pomiarowych do mikroskopów sił atomowych (AFMów) przez firmę PIK Instruments. Dzięki zaproponowanej w Instytucie Podstawowych
Problemów Techniki (IPPT PAN) nowej technologii wytwarzania sond do AFMów możliwa będzie produkcja sond z dowolnego materiału, który można osadzić w postaci cienkiej warstwy metodami osadzania
galwanicznego lub PVD oraz o dowolnym, wypukłym kształcie końcówki pomiarowej. Sondy takie będą tańsze i trwalsze niż ich krzemowe odpowiedniki oraz pozwolą na równie precyzyjne wykonywanie
standardowych pomiarów takich jak pomiar topografii powierzchni, pomiar siły bocznej, czy pomiar metodą sondy Kelvina. Dodatkowo, nasze sondy będą miały właściwości i parametry, które pozwolą na
wykonywanie szeregu pomiarów, które do tej pory były trudne lub wręcz niemożliwe np. pomiary współczynników tarcia w sprecyzowanych parach trących, pomiary zużycia, nanoindentacja czy pomiary
biologiczne.
W skrócie, sondy pomiarowe będą wytwarzane poprzez wykonanie odcisku wgłębnikiem o odpowiednim kształcie w plastycznym podłożu, wytworzeniu maski, naniesieniu materiału sondy i wytrawieniu
podłoża. Należy zaznaczyć, że do tej pory technologia z IPPT PAN umożliwiła wytworzenie sond z niklu na podłożu miedzianym. W projekcie, chcielibyśmy poszerzyć możliwości produkcji o sondy
przewodzące ze złota, srebra, kobaltu, czy chromu oraz sondy z supertwardych materiałów takich jak węgliki boru, czy DLC. Jednym z pośrednich celów projektu będzie również dostosowanie parametrów
sond do wyśrubowanych wymagań klientów - nie tyko pod względem rozdzielczości, czy dokładności pomiarów, ale również estetyki, czy łatwości zamocowania.
Obszar, dziedziny i dyscypliny naukowej:
| 5.1.5: | obszar nauk technicznych, dziedzina nauk technicznych, dyscyplina budowa i eksploatacja maszyn |
| 5.1.15: | obszar nauk technicznych, dziedzina nauk technicznych, dyscyplina inżynieria produkcji |